| Testmustergenerierung Und Fehlersimulation in Digitalen Schaltungen Mit Hoher Komplexität Contributor(s): Schulz, Michael H. (Author) |
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ISBN: 3540500510 ISBN-13: 9783540500513 Publisher: Springer OUR PRICE: $56.99 Product Type: Paperback Language: German Published: July 1988 |
| Additional Information |
| BISAC Categories: - Computers | Systems Architecture - General - Computers | Hardware - General |
| Dewey: 621.381 |
| Series: Informatik-Fachberichte |
| Physical Information: 0.38" H x 6.69" W x 9.61" (0.65 lbs) 165 pages |
| Descriptions, Reviews, Etc. |
| Publisher Description: Das Buch behandelt die beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im Rahmen des wirtschaftlich und wissenschaftlich u erst bedeutenden Gebietes der Testvorbereitung: die automatische Testmustergenerierung und die Fehlersimulation. Alle im Buch beschriebenen Methoden und Verfahren zielen zum einen auf die Minimierung des dazu erforderlichen Rechenzeitaufwandes und zum anderen auf die Bew ltigung m glichst gro er Schaltungskomplexit ten. Besonderer Wert wurde auf eine pr zise, formal konsistente und illustrative Beschreibung und auf eine m glichst vollst ndige Aufbereitung der einschl gigen Literatur und somit des Standes der Technik gelegt. Das Buch enth lt eine F lle neuer Methoden, die eine wesentliche Beschleunigung von Testmustergenerierungs- und Fehlersimulationsverfahren erm glichen, und dokumentiert den mit diesen Methoden erzielten Fortschritt anhand einer Reihe von vergleichenden Untersuchungen. Au erdem wird mit SOCRATES das derzeit leistungsf higste der aus der Literatur bekannten Testmustergenerierungssysteme detailliert vorgestellt. Neben der Hilfestellung bei Implementierungsaufgaben gibt das Buch eine detaillierte Darstellung der Problematik des Testens integrierter Schaltungen und speziell der Prinzipien der automatischen Testmustergenerierung und der schnellen Fehlersimulation. Dar ber hinaus kann es als Richtschnur f r Spezialvorlesungen nach dem Vordiplom (Elektrotechnik und Informatik) dienen sowie als Ansatz- und Ausgangspunkt f r Forschungsaktivit ten auf verwandten Forschungsgebieten. |