| Physikalische Eigenschaften und Anwendung des Rasterkraftmikroskops: Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Contributor(s): Lehmann, Moritz (Author), Stenger, Niklas (Author) |
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ISBN: 3668589526 ISBN-13: 9783668589520 Publisher: Grin Verlag OUR PRICE: $38.86 Product Type: Paperback Language: German Published: December 2017 |
| Additional Information |
| BISAC Categories: - Science | Mechanics - Thermodynamics - Science | Physics - General |
| Physical Information: 0.09" H x 5.83" W x 8.27" (0.14 lbs) 38 pages |
| Descriptions, Reviews, Etc. |
| Publisher Description: Praktikumsbericht / -arbeit aus dem Jahr 2017 im Fachbereich Physik - Angewandte Physik, Note: 2,7, Universit t Bayreuth (Physikalisches Institut), Veranstaltung: Physikalisches Praktikum f r Fortgeschrittene, Sprache: Deutsch, Abstract: Um Abst nde zu messen, kann man die entsprechenden Distanzen zun chst mit einem Lineal ausmessen. F r kleinere Abst nde, die sich damit nicht erfassen lassen oder f r kleinere Strukturen verwendet man die Methoden der Optik, beispielsweise Instrumente wie das Fabry‐Perot‐Etalon und optische Ph nomene wie beispielweise Interferenz. Jedoch ist auch diese Methode auf die Gr enordnung der Wellenl nge des verwendeten Lichts beschr nkt. F r noch feinere Strukturen kann man die Nutzung von kleinen Str men oder Kr ften im Rastertunnelmikroskop oder Rasterkraftmikroskop. In unserem Versuch werden wir uns mit den physikalischen Eigenschaften des Rasterkraftmikroskops befassen. Das Rasterkraftmikroskop verwendet eine feine Siliziumfeder (Cantilever), um die Kr fte zwischen der Probe und dem Ger t zu messen. Dies geschieht durch die Auslenkung der Feder durch die auftretenden Kr fte. Die Federkonstante muss dementsprechend gering sein. Um die Auslenkung der Feder zu messen, wird ein Laserstrahl auf den Cantilever projiziert. Durch die Verbiegung der Feder ndert sich die spiegelnde Fl che und damit die Position des reflektierten Strahls. Durch Umrechnung kann damit die Federauslenkung und somit die Kraft bestimmt werden. ber die wirkende Kraft kann mithilfe des Lennard‐Jones‐Potentials der Abstand zwischen Probe und Spitze des AFM berechnet werden. Damit ist es m glich, die Oberfl che der Probe zu rekonstruieren. Das Lennard‐Jones‐Potential hilft hierbei, alle verschiedenen Wechselwirkungen zusammenzufassen. |