| Röntgen-Pulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse Und Strukturbestimmung 2. Aufl. 2003 Edition Contributor(s): Allmann, Rudolf (Author), Kern, Arnt (Author) |
|
 |
ISBN: 3540439676 ISBN-13: 9783540439677 Publisher: Springer OUR PRICE: $42.74 Product Type: Paperback Language: German Published: September 2002 Annotation: Die Beugung von R?ntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerst?rungsfreien Identifikation von Festk?rperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern (PCs) und von schnelleren Detektoren hat in der R?ntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten gef?hrt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und ?bungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird au?erdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegen?ber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausf?hrlicher behandelt. |
| Additional Information |
| BISAC Categories: - Science | Earth Sciences - Mineralogy - Science | Chemistry - Inorganic - Science | Chemistry - Physical & Theoretical |
| Dewey: 541 |
| Physical Information: 0.61" H x 6.14" W x 9.21" (0.91 lbs) 278 pages |
| Descriptions, Reviews, Etc. |
| Publisher Description: Die Beugung von R ntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerst rungsfreien Identifikation von Festk rperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern (PCs) und von schnelleren Detektoren hat in der R ntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten gef hrt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und bungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird au erdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegen ber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausf hrlicher behandelt. |